中華民國國家標準 |
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總號: |
CNS 13623 |
CNS |
類號 |
C6359 |
單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法(范德普法) Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method) |
公布日期
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經濟部標準檢驗局印行 |
修訂日期
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CNS標準代碼 |
CNS CNS 13623 |
CNS標準類別 |
C6359 |
CNS標準中文名稱 |
單晶片之電阻率、霍爾係數及霍爾移動率之測定法(范德普法) |
CNS標準英文名稱 |
Test Methods for Measuring Resistivity,Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors(Van Der Pauw Method) |
CNS 標準版本 |
12/21/1995 |
CNS 標準頁數 |
8 |
CNS標準英文版翻譯費 |
$200.00 USD -大約每1頁 $25美元 |
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