“Test mothod for thic ” 中國GB標準檢索結果 |
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GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法(中英文版) Test mothod for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance |
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