“Epitaxial wafers of ” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 43493.3-2023 半导体器件功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据第3部分：缺陷的光致发光检测方法（中英文版） Semiconductor devices - Non-destructive testing and identification criteria for defects in silicon carbide homoepitaxial wafers for power devices - Part 3: Photoluminescence detection method of defects
	GB/T 42902-2023 碳化硅外延片表面缺陷的测试激光散射法（中英文版） Testing of surface defects of silicon carbide epitaxial wafers Laser scattering method
	GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片（中英文版） Epitaxial wafers of germanium based Ⅲ-Ⅴcompounds for solar cell

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