“Probe test method fo ” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法（中英文版） Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method
	GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法（中英文版） Probe test method for light emitting diode chips
	GB/T 30823-2014 测定工业淬火油冷却性能的镍合金探头试验方法（中英文版） Nickel-alloy probe test method for determination cooling characteristics of industrial quenching oil
	GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法（中英文版） Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe
	GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法（中英文版） Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array

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