“Measuring method in ” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 15749-2008 定量金相測定方法（中英文版） Measuring method in quantitative metallography
	GB/T 15653-1995 金屬氧化物半導體氣敏元件測試方法（中英文版） Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
	GB/T 15651.3-2003 半導體分立器件和積體電路第5-3部分:光電子器件測試方法（中英文版） Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
	GB/T 15614-2015 日用陶瓷顏料光澤度測定方法（中英文版） Test method for measuring the glossiness of ceramic pigment
	GB/T 1551-2009 矽單晶電阻率測定方法（中英文版） Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon
	GB/T 1550-1997 非本征半導體材料導電類型測試方法（中英文版） Standard methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
	GB/T 15470-2002 家用直接作用式房間電加熱器性能測試方法（中英文版） Household electric direct-acting room heaters--Methods for measuring performance
	GB/T 15293-1994 晶閘管測試方法可關斷晶閘管（中英文版） Measuring methods for thyristor--Gate turn-off thyristor
	GB/T 15292-1994 晶閘管測試方法逆導三極晶閘管（中英文版） Measuring methods for thyristor--Reverse conducting triode thyristor
	GB/T 15187-2005 濕式除塵器性能測定方法（中英文版） Measuring method for performances of wet dust collectors
	GB/T 15168-2013 振動與衝擊隔離器靜、動態性能測試方法（中英文版） Vibration and shock isolators measuring method for its static and dynamic characteristics
	GB/T 15136-1994 半導體積體電路石英鐘表電路測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods for quartz clock and watch circuits of semiconductor integrated circuits
	GB/T 15077-2008 貴金屬及其合金材料幾何尺寸測量方法（中英文版） Geometric size measuring methods of precious metals and their alloy materials
	GB/T 15043-2008 白熾燈泡光電參數的測量方法（中英文版） Method of measuring electrical and photometric characteristics for incandescent lamps
	GB/T 14854.1-1993 廣播錄影磁帶測量方法（中英文版） Measuring methods for broadcast video tape
	GB/T 14828-2003 農業輪胎牽引性能試驗方法（中英文版） Test method for measuring traction performance of agricultural tyres
	GB/T 14432-1993 廣播答錄機抖晃測量方法（中英文版） Measuring methods for wow and flutter of broadcast tape recorders
	GB/T 14307-1993 錄影磁帶性能測量方法（中英文版） Measuring methods for video tape properties
	GB/T 14140-2009 矽片直徑測量方法（中英文版） Test method for measuring diameter of semiconductor wafer
	GB/T 14115-1993 半導體積體電路採樣/保持放大器測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14114-1993 半導體積體電路電壓/頻率和頻率/電壓轉換器測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of V/F and F/V converters for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14032-1992 半導體積體電路數字鎖相環測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14031-1992 半導體積體電路模擬鎖相環測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14030-1992 半導體積體電路時基電路測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of timer circuits for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14029-1992 半導體積體電路模擬乘法器測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of analogue multiplier for semiconductor integrated circuits
	GB/T 14028-1992 半導體積體電路類比開關測試方法的基本原理（中英文版） General principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
	GB/T 13998-1992 電信線路磁感應縱電動勢和對地電壓、電感應電流及雜音計電壓的測量方法（中英文版） Measuring methods of the magnetic induced longitudinal EMF， magnetic induced voltage with respect to earth， electric induced current and psophometric voltage ontelecommunication lines
	GB/T 13986-1992 照相機焦平面曝光量的光電測量方法（中英文版） Photoelectric method for measuring exposure in focal planes of camera
	GB/T 13584-2011 紅外探測器參數測試方法（中英文版） Measuring methods for paramaters of infrared detectors
	GB/T 13434-2008 放電燈（螢光燈除外）特性測量方法（中英文版） Methods of measuring characteristics for discharge lamps (excluding fluorescent lamps)

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