“Test method for sili ” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 24575-2009 矽和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次離子質譜檢測方法（中英文版） Test method for measuring surface sodium,aluminum,potassium,and iron on silicon and epi substrates by secondary ion mass spectrometry
	GB/T 24574-2009 矽單晶中Ⅲ-Ⅴ族雜質的光致發光測試方法（中英文版） Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities
	GB/T 19922-2005 矽片局部平整度非接觸式標準測試方法（中英文版） Standard test methods for measuring site flatness on silicon wafers by noncontact scanning
	GB/T 16175-2008 醫用有機矽材料生物學評價試驗方法（中英文版） Biological evaluation test methods for medical organic silicon materials
	GB/T 1558-2009 矽中代位碳原子含量紅外吸收測量方法（中英文版） Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
	GB/T 1554-2009 矽晶體完整性化學擇優腐蝕檢驗方法（中英文版） Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
	GB/T 1553-2009 矽和鍺體內少數載流子壽命測定光電導衰減法（中英文版） Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
	GB/T 1551-2009 矽單晶電阻率測定方法（中英文版） Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon
	GB/T 14144-2009 矽晶體中間隙氧含量徑向變化測量方法（中英文版） Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon
	GB/T 14142-1993 矽外延層晶體完整性檢查方法腐蝕法（中英文版） Test method for crystallographic perfection of epit-axial layers in silicon by etching techniques
	GB/T 14141-2009 矽外延層、擴散層和離子注入層薄層電阻的測定直排四探針法（中英文版） Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array
	GB/T 13387-2009 矽及其它電子材料晶片參考面長度測量方法（中英文版） Test method for measuring flat length wafers of silicon and other electronic materials
	GB/T 12442-1990 石英玻璃中羥基含量檢驗方法（中英文版） Test method for the hydroxyl groups contentof silica glass
	GB/T 10701-2008 石英玻璃熱穩定性試驗方法（中英文版） Test methods for thermal stability of silica glass
	GB/T 1036-2008 塑膠 -30℃～30℃線膨脹係數的測定石英膨脹計法（中英文版） Test method for coefficient of linear thermal expansion of plastics between -30℃ and 30℃ with a vitreous silica dilatometer

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