“Non-contact measurem” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 26068-2018 矽片和矽錠載流子複合壽命的測試非接觸微波反射光電導衰減法（中英文版） Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers and silicon ingots—Non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance method
	SJ/T 11487-2015 半絕緣半導體晶片電阻率的無接觸測量方法（中英文版） Non-contact measurement method for the resistivity of semi-insulating semiconductor wafer
	GB/T 26068-2010 矽片載流子複合壽命的無接觸微波反射光電導衰減測試方法（中英文版） Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance

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