“Quartz crystal units” 中國GB標準檢索結果 |
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GB/T 22319.9-2018 石英晶體元件參數的測量 第9部分：石英晶體元件寄生諧振的測量（中英文版） Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 9:Measurement of spurious resonances of piezoelectric crystal units |
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GB/T 12273.1-2017 有品質評定的石英晶體元件 第1部分:總規範（中英文版） Quartz crystal units of assessed quality—Part 1:Generic specification |
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SJ/Z 9154.2-1987 用π型網路零相位法測量石英晶體件參數 第二部分：測量石英晶體件動態電容的相位偏置法（中英文版） Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a π-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units |
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SJ/Z 9152.3-1987 頻率控制和選擇用石英晶體件 第三部分：標準外形及插腳連接（中英文版） Quartz Crystal units for frequency control and selection. Part 3: Standard outlines and pin connections |
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SJ/Z 9152.2-1987 頻率控制和選擇用石英晶體件 第二部分：頻率控制和選擇用石英晶體件使用指南（中英文版） Quartz Crystal units for frequency control and selection. Part 2: Guide to the use of quartz Crystal units for frequency control and selection |
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SJ/T 10015-1991 ｊｕ３８和ｊｕ２６型鐘錶用３２ｋｈｚ音叉石英晶體件（中英文版） 32kHz tuning fork quartz crystal units for clocks and watches type JU38 and JU26 |
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SJ/T 9570.1-1995 石英晶體件品質分等標準（中英文版） Quality grading standard for quartz crystal units |
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SJ/T 10707-1996 石英晶體件－電子器件品質評定體系規範 第２部分：分規範－能力批准 第一篇 空白詳細規範（中英文版） Quartz crystal units. A specification in the Quality Assessment System for Electronic Components. Part 2: Sectional specification. Capability approval. Section 1:Blank detail specification |
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SJ/T 10708-1996 石英晶體件－電子器件品質評定體系規範 第３部分：分規範－鑒定批准 第一篇 空白詳細規範（中英文版） Quartz crystal units. A specification in the Quality Assessment System for Electronic Components. Part 3: Sectional specification. Qualification approval. Section 1:Blank detail specification |
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SJ/T 11210-1999 石英晶體元件參數的測量 第4部分：頻率達30mhz石英晶體元件負載諧振頻率fl和負載諧振電阻rl的測量方法及其他匯出參數的計算（中英文版） Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 4: Method for the measurement of the load resonance frequency fL, load resonance resistance Rland the calculation of other derived values of quartz crystal units, up to 30 MHz |
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SJ/T 10015-2013 10kHz～200kHz音叉石英晶體元件的測試方法和標準值（中英文版） Measurement and test methods for tuning fork quartz crystal units in the range from 10 kHz to 200 kHz and standard values |
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GB/T 6429-1986 石英諧振器型號命名方法（中英文版） The rule of type designation for quartz crystalunits |
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GB/T 22319.8-2008 石英晶體元件參數的測量 第8部分：表面貼裝石英晶體元件用測量夾具（中英文版） Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units |
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GB/T 22319.7-2015 石英晶體元件參數的測量 第7部分：石英晶體元件活性跳變的測量（中英文版） Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units |
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GB/T 16517-1996 石英晶體元件 電子元器件品質評定體系規範 第3部分:分規範 鑒定批准（中英文版） Quartz crystal units--A specification in the quality assessment system for electronic components--Part 3:Sectional specification--Qualification approval |
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GB/T 16516-1996 石英晶體元件 電子元器件品質評定體系規範 第2部分:分規範 能力批准（中英文版） Quartz crystal units--A specification in the quality assessment system for electronic components--Part 2:Sectional specification--Capability approval |
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GB/T 12273-1996 石英晶體元件 電子元器件品質評定體系規範 第1部分:總規範（中英文版） Quartz crystal units--A specification in the quality assessment system for electronic components--Part 1:Generic specification |
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GB/T 12273.501-2012 石英晶體元件 電子元器件品質評定體系規範 第5.1部分：空白詳細規範 鑒定批准（中英文版） Quartz crystal units A specification in the quality assessment system for electronic components Part 5.1: Blank detail specification- qualification approval |
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