“Single crystal wafer” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 11094-2020 水準法砷化鎵單晶及切割片（中英文版） Gallium arsenide single crystal and cutting wafer grown by horizontal bridgman method
	SJ 3243-1989 磷化銦單晶棒及片（中英文版） Indium phosphide single-crystal bar and wafers
	SJ 3241-1989 砷化鎵單晶棒及片（中英文版） Gallium arsenide single-crystal bar and wafer
	SJ/T 11505-2015 藍寶石單晶拋光片規範（中英文版） Sapphire single crystal polished wafers specification
	GB/T 30118-2013 聲表面波（SAW）器件用單晶晶片規範與測量方法（中英文版） Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
	GB/T 13388-2009 矽片參考面結晶學取向X射線測試方法（中英文版） Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
	GB/T 11094-2007 水準法砷化鎵單晶及切割片（中英文版） Horizontal bridgman grown gallium arsenide single　crystal and cutting wafer

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