“Test method for disl” 中國GB標準檢索結果 |
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GB/T 8760-2020 砷化鎵單晶位元錯密度的測試方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide |
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GB/T 5252-2020 鍺單晶位元錯密度的測試方法（中英文版） Test method for dislocation density of monocrystal germanium |
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GB/T 34481-2017 低位元錯密度鍺單晶片腐蝕坑密度(EPD)的測量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices |
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GB/T 33763-2017 藍寶石單晶位元錯密度測量方法（中英文版） Test method for dislocation density of sapphire single crystal |
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SJ/T 11489-2015 低位元錯密度磷化銦拋光片蝕坑密度的測量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density indium phosphide wafers |
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SJ/T 11490-2015 低位元錯密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測量方法（中英文版） Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density gallium arsenide wafers |
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