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China crystal GB Standards Search Result

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GB/T 25074-2017
Solar-grade polycrystalline silicon
太陽能級多晶矽 - 英文版
GB/T 19346.1-2017
Amorphous and nanocrystalline alloys measurement methods—Part 1:AC magnetic properties by the use of ring specimens
非晶納米晶合金測試方法 第1部分:環形試樣交流磁性能 - 英文版
GB/T 22780-2017
Liquid crystal displaying quartz watches
液晶式石英手錶 - 英文版
GB/T 10574.11-2017
Methods for chemical analysis of tin-lead solders—Part 11:Determination of phosphorus content—crystal violet phosphorus-vanadium-molybdeum heteropoly acid spectrophotometry
錫鉛焊料化學分析方法 第11部分:磷量的測定 結晶紫-磷釩鉬雜多酸分光光度法 - 英文版
GB/T 19345.1-2017
Amorphous and nanocrystalline alloys—Part 1: Fe-based amorphous soft magnetic alloy strips
非晶納米晶合金 第1部分:鐵基非晶軟磁合金帶材 - 英文版
GB/T 20314-2017
Thin float glass for liquid crystal display( LCD )applications
液晶顯示器用薄浮法玻璃 - 英文版
GB/T 35118-2017
Test methods of optical performance for Erbium-doped Yttrium Aluminum Garnet laser crystal
摻鉺釔鋁石榴石鐳射晶體光學性能測量方法 - 英文版
GB/T 14142-2017
Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
矽外延層晶體完整性檢驗方法 腐蝕法 - 英文版
GB/T 19346.2-2017
Methods of measurement for amorphous and nanocrystalline alloys—Part 2: Lamination factor of amorphous alloy strips
非晶納米晶合金測試方法 第2部分:帶材疊片係數 - 英文版
GB/T 35305-2017
Monocrystalline gallium arsenide polished wafers for solar cell
太陽能電池用砷化鎵單晶拋光片 - 英文版
GB/T 22779-2017
Liquid crystal displaying quartz clocks
液晶式石英鐘 - 英文版
GB/T 35306-2017
Test method for carbon and oxygen content of single crystal silicon—Low temperature fourier transform infrared spectrometry
矽單晶中碳、氧含量的測定 低溫傅立葉轉換紅外光譜法 - 英文版
GB/T 12273.1-2017
Quartz crystal units of assessed quality—Part 1:Generic specification
有品質評定的石英晶體元件 第1部分:總規範 - 英文版
GB/T 35316-2017
Collection of metallographs on defects of sapphire crystal
藍寶石晶體缺陷圖譜 - 英文版
GB/T 33763-2017
Test method for dislocation density of sapphire single crystal
藍寶石單晶位元錯密度測量方法 - 英文版
GB/T 34210-2017
Test method for determining the orientation of sapphire single crystal
藍寶石單晶晶向測定方法 - 英文版
GB/T 34612-2017
Measurement method for X-ray double crystal diffraction rocking curve of sapphire crystals
藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法 - 英文版
GB/T 34481-2017
Test method for measuring etch pit density (EPD) in low dislocation density monocrystalline germanium slices
低位元錯密度鍺單晶片腐蝕坑密度(EPD)的測量方法 - 英文版
GB/T 19345.2-2017
Amorphous and nanocrystalline alloy—Part 2: Fe-based nanocrystalline soft magnetic alloy strips
非晶納米晶合金 第2部分:鐵基納米晶軟磁合金帶材 - 英文版
GB/T 6495.11-2016
Photovoltaic devices—Part 11: Test method of initial light-induced degradation of crystalline silicon solar cell
光伏器件 第11部分:晶體矽太陽電池初始光致衰減測試方法 - 英文版
GB/T 32652-2016
Fused quartz used for quartz ceramic crucibles for casting polycrystalline silicon
多晶矽鑄錠石英坩堝用熔融石英料 - 英文版
GB/T 32930-2016
Microcrystalline cemented carbide rod
微晶硬質合金棒材 - 英文版
GB/T 32988-2016
Synthetic quartz crystal wafer for optical low pass filter (OLPF)
人造石英光學低通濾波器晶片 - 英文版
GB/T 33236-2016
Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
多晶矽 痕量元素化學分析 輝光放電質譜法 - 英文版
GB/T 19199-2015
Test method for carbon acceptor concentration in semi-insulating gallium arsenide single crystals by infrared absorption spectroscopy
半絕緣砷化鎵單晶中碳濃度的紅外吸收測試方法 - 英文版
GB 1886.103-2015
National food safety standard — Food additive — Microcrystalline cellulose
食品安全國家標準 食品添加劑 微晶纖維素 - 英文版
GB 51136-2015
Code for design of thin film transistor liquid crystal display plant
薄膜電晶體液晶顯示器工廠設計規範 - 英文版
GB/T 30839.46-2015
Energy consumption grading for industrial electroheat installations—Part 46:crystal growing furnaces
工業電熱裝置能耗分等 第46部分:單晶爐 - 英文版
GB/T 32282-2015
Test method for disoclation density of GaN single crystal—Cathodoluminescence spectroscopy
氮化鎵單晶位元錯密度的測量 陰極螢光顯微鏡法 - 英文版
GB/T 32189-2015
Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope
氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法 - 英文版
GB/T 22319.7-2015
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 7: Measurement of activity dips of quartz crystal units
石英晶體元件參數的測量 第7部分:石英晶體元件活性跳變的測量 - 英文版
GB/T 31958-2015
Substrate glass for thin film transistor liquid crystal display device
薄膜電晶體液晶顯示器用基板玻璃 - 英文版
GB/T 32278-2015
Test methods for flatness of monocrystalline silicon carbide wafers
碳化矽單晶片平整度測試方法 - 英文版
GB/T 31568-2015
Standard test method for determination of crystallite size of ZrO2 coatings by Scherrer equation
熱噴塗熱障ZrO2塗層晶粒尺寸的測定 謝樂公式法 - 英文版
GB/T 32188-2015
The method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of GaN single crystal substrate
氮化鎵單晶襯底片x射線雙晶搖擺曲線半高寬測試方法 - 英文版
GB/T 12962-2015
Monocrystalline silicon
矽單晶 - 英文版
GB/T 17170-2015
Test method for the EL2 deep donor concentration in semi-insulating gallium arsenide single crystals by infrared absorption spectroscopy
半絕緣砷化鎵單晶深施主EL2濃度紅外吸收測試方法 - 英文版
GB/T 12963-2014
Electronic-grade polycrystalline silicon
電子級多晶矽 - 英文版
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GB/T 30653-2014
Test method for crystal quality of III-nitride epitaxial layers
Ⅲ族氮化物外延片結晶品質測試方法 - 英文版
GB/T 31034-2014
Insulating back sheet for crystalline silicon terrestrial photovoltaic (PV) modules
晶體矽太陽電池元件用絕緣背板 - 英文版
GB/T 30868-2014
Test method for measuring micropipe density of monocrystalline silicon carbide wafers―Chemically etching
碳化矽單晶片微管密度的測定 化學腐蝕法 - 英文版
GB/T 31351-2014
Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers
碳化矽單晶拋光片微管密度無損檢測方法 - 英文版
GB/T 30866-2014
Test method for measuring diameter of monocrystalline silicon carbide wafers
碳化矽單晶片直徑測試方法 - 英文版
GB/T 30656-2014
Polished monocrystalline silicon carbide wafers
碳化矽單晶拋光片 - 英文版
GB/T 30904-2014
Inorganic chemicals for industrial use―crystal form analysis―X-ray diffraction method
無機化工產品 晶型結構分析 X射線衍射法 - 英文版
GB/T 31092-2014
Monocrystalline sapphire ingot
藍寶石單晶晶錠 - 英文版
GB/T 31093-2014
Test method for stress of monocrystalline sapphire ingot
藍寶石晶錠應力測試方法 - 英文版
GB/T 30867-2014
Test method for measuring thickness and total thickness variation of monocrystalline silicon carbide wafers
碳化矽單晶片厚度和總厚度變化測試方法 - 英文版
GB/T 30858-2014
Polished mono-crystalline sapphire substrate product
藍寶石單晶襯底拋光片 - 英文版
GB/T 10067.410-2014
Basic specifications for electroheat installations―Part 410: Single crystal growing furnace
電熱裝置基本技術條件 第410部分:單晶爐 - 英文版

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