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NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
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GB/T 34326-2017
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Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
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Issued Date: |
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Implemented Date: |
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Issued by: |
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The Standardization Administration of the People's Republic of China |
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| 標準代碼 |
GB/T 34326-2017 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
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標準中文名稱 |
（英文版） |
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標準英文名稱 |
Surface chemical analysis—Depth profiling—Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS |
| 中文版價格 |
每50頁 $15 美元 |
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英文版翻譯費 |
大約每1頁 $15 美元
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