 |
NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
|
GB/T 24581-2022
|
| |
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method |
|
|
| |
|
Issued Date: |
|
Implemented Date: |
|
|
Issued by: |
|
The Standardization Administration of the People's Republic of China |
|
|
|
|
|
謝謝您對
"GB/T 24581-2022" 英文版中國國家標準的關注 !
這個標準尚未翻譯，需要接到您的訂單后才進行翻譯，時間通常需要多 3~5 天。
|
 |
| 標準代碼 |
GB/T 24581-2022 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
|
標準中文名稱 |
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 （英文版） |
|
標準英文名稱 |
Test method for Ⅲ and Ⅴ impurities content in single crystal silicon—Low temperature FT-IR analysis method |
| 中文版價格 |
每1頁 $1 美元 |
|
英文版翻譯費 |
大約每1頁 $15~$30 美元
(約1,000 漢字) |
優惠特價
(30~50% 折扣) |
請留言詢價
|
|
更多關于 " GB/T 24581-2022 硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温"
的相關GB標準>>> 
+86-755-2583-1330
