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NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
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GB/T 33657-2017
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纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells |
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Issued Date: |
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Implemented Date: |
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Issued by: |
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The Standardization Administration of the People's Republic of China |
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| 標準代碼 |
GB/T 33657-2017 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
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標準中文名稱 |
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范 （英文版） |
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標準英文名稱 |
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells |
| 中文版價格 |
每1頁 $1 美元 |
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英文版翻譯費 |
大約每1頁 $15~$30 美元
(約1,000 漢字) |
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