GB/T 4058-2009 標準英文版簡介

NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA

GB/T 4058-2009

Issued Date:

Implemented Date:

Issued by:

The Standardization Administration of the People's Republic of China

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標準代碼	GB/T 4058-2009
標準類別	中華人民共和國国家標準
標準中文名稱	硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法（英文版）
標準英文名稱	Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers
中文版價格	每1頁 $1 美元
英文版翻譯費	大約每1頁 $15~$30 美元 (約1,000 漢字)
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