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NATIONAL STANDARD OF THE PEOPLE'S REPUBLIC OF CHINA
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GB/T 4937.4-2012
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半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) |
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Issued Date: |
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Implemented Date: |
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Issued by: |
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The Standardization Administration of the People's Republic of China |
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| 標準代碼 |
GB/T 4937.4-2012 |
| 標準類別 |
中華人民共和國国家標準 |
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標準中文名稱 |
半导体器件 机械和气候试验方法 第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST） （英文版） |
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標準英文名稱 |
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) |
| 中文版價格 |
每1頁 $1 美元 |
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英文版翻譯費 |
大約每1頁 $15~$30 美元
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