“Wafer level test met ” 中國GB標準檢索結果

1. 已翻譯的GB標準英文版（有 SALE 標誌的），以及GB標準中文版，可以直接在網站上購買，在收到您付款後，會在1～3天內發您郵箱。
2. 其他未翻譯的GB標準英文版，在接到您翻譯訂單後，才進行翻譯，時間一般需要多3～5天。


	GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法（中英文版） Wafer level test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive die performances
	GB/T 33657-2017 纳米技术晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范（中英文版） Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells

找到:2條目 | [首頁]-[上一頁]-[下一頁]-[尾頁] | 去到: 1