“Test method for C-C ” 中國GB標準檢索結果 |
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GB/T 14634.5-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第5部分：密度的测定（中英文版） Test methods of rare earth three-band phosphors for fluorescent lamps - Part 5: Determination of density |
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GB/T 14634.3-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第3部份：热稳定性的测定（中英文版） Test methods of rare earth three-band phosphors for fluorescent lamps - Part 3: Determination of thermostability |
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GB/T 14634.2-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第2部分：发射主峰和色度性能的测定（中英文版） Test methods of rare earth three-band phosphors for fluorescent lamps - Part 2: Determination of emission dominantpeak and chromaticity |
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GB/T 14634.1-2010 灯用稀土三基色荧光粉试验方法 第1部分：相对亮度的测定（中英文版） Test methods of rare earth three-band phosphors for fluorescent lamps - Part 1: Determination of relative brightness |
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GB 24941-2010 低速货车安全架 要求和试验方法（中英文版） Safety frames for low-speed goods vehicles - Requirements and test methods |
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GB 24940-2010 三轮汽车安全架 要求和试验方法（中英文版） Safety frames for tri-wheel vehicles - Requirements and test methods |
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GB 24930-2010 全地形车燃油箱安全性能要求和试验方法（中英文版） Safety property requirements and test method for fuel tanks of all-terrain vehicles |
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GB/Z 24987-2010 纸、纸板和纸浆 测试方法不确定度的评定（中英文版） Paper, board and pulps - Estimation of uncertainty for test methods |
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GB/T 24985-2010 家用和类似用途房间空气调节器可靠性试验方法（中英文版） Test methods for reliability on household and similar room air conditioners |
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GB/T 24935-2010 全地形车最大侧倾稳定角试验方法（中英文版） The test method of maximum stable side-inclination for all-terrain vehicles |
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GB/T 9766.7-2009 轮胎气门嘴试验方法 第7部分：零部件试验方法（中英文版） Test method for tyre valves - Part 7: Components test methods |
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GB/T 9766.5-2009 轮胎气门嘴试验方法 第5部分：大芯腔气门嘴试验方法（中英文版） Test method for tyre valve - Part 5: Tyre valves for large core chamber test methods |
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GB/T 9766.4-2009 轮胎气门嘴试验方法 第4部分：压紧式无内胎气门嘴试验方法（中英文版） Test method for tyre valve - Part 4: Clamp-in tubeless valves test methods |
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GB/T 24688-2009 动物防疫消毒机 试验方法（中英文版） Equipment for animal disinfection machinery - Test methods |
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GB/T 24684.3-2009 植物保护机械 评价清洗系统的试验方法 第3部分：药液箱的内部清洗（中英文版） Crop protection equipment - Test methods for the evaluation of cleaning systems - Part 3: Internal cleaning of tank |
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GB/T 24684.2-2009 植物保护机械 评价清洗系统的试验方法 第2部分：喷雾机的外部清洗（中英文版） Crop protection equipment - Test methods for the evaluation of cleaning systems - Part 2：External cleaning of sprayers |
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GB/T 24684.1-2009 植物保护机械 评价清洗系统的试验方法 第1部分：喷雾机整机的内部清洗（中英文版） Crop protection equipment - Test methods for the evaluation of cleaning systems - Part 1：Internal cleaning of complete sprayers |
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GB/T 24683-2009 植物保护机械 灌木和乔木作物用风送式喷雾机 试验方法（中英文版） Equipment for crop protection - Test methods for air-assisted sprayers for bush and tree crops |
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GB/T 24679.1-2009 植物保护机械 背负式喷雾器 第1部分：试验要求和方法（中英文版） Equipment for crop protection - Knapsack sprayers - Part 1: requirements and test methods |
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GB/T 16311-2009 道路交通标线质量要求和检测方法（中英文版） Specification and test method for road traffic markings |
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GB/T 24644-2009 农林拖拉机落物防护装置 试验方法和性能要求（中英文版） Testing method and performance requirement of falling object protective - Structures on agricultural and forestry tractors |
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GB/T 14710-2009 医用电器环境要求及试验方法（中英文版） The environmental requirement and test methods for medical electrical equipment |
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GB/T 5909-2009 商用车辆车轮性能要求和试验方法（中英文版） Performance requirements and test methods of commercial vehicles wheels |
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GB/T 4970-2009 汽车平顺性试验方法（中英文版） Method of running test - Automotive ride comfort |
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GB/T 24554-2009 燃料电池发动机性能试验方法（中英文版） Performance test methods for fuel cell engines |
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GB/T 24552-2009 电动汽车风窗玻璃除霜除雾系统的性能要求及试验方法（中英文版） Electric vehicles - Windshield demisters and defrosters system - Performance requirements and test methods |
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GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法（中英文版） Testing methods for surface flatness of silicon slices |
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GB/T 6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法（中英文版） Test method for measuring warp on silicon slices by noncontact scanning |
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GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法（中英文版） Test methods for bow of silicon wafers |
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GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法（中英文版） Test method for thickness and total thickness variation of silicon slices |
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GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法（中英文版） Test method for measuring resistivity of silicon wafer using spreading resistance probe |
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GB/T 6616-2009 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法（中英文版） Test methods for measuring resistivity of semiconductor wafers or sheet resistance of semiconductor films with a noncontact eddy-current gauge |
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GB/T 4058-2009 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法（中英文版） Test method for detection of oxidation induced defects in polished silicon wafers |
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GB/T 24578-2009 硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法（中英文版） Test method for measuring surface metal contamination on silicon wafers by total reflection X-ray fluorescence spectroscopy |
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GB/T 24577-2009 热解吸气相色谱法测定硅片表面的有机污染物（中英文版） Test methods for analyzing organic contaminants on silicon wafer surfaces by thermal desorption gas chromatography |
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GB/T 24576-2009 高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法（中英文版） Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction |
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GB/T 24575-2009 硅和外延片表面Na、Al、K和Fe的二次离子质谱检测方法（中英文版） Test method for measuring surface sodium,aluminum,potassium,and iron on silicon and epi substrates by secondary ion mass spectrometry |
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GB/T 24574-2009 硅单晶中Ⅲ-Ⅴ族杂质的光致发光测试方法（中英文版） Test methods for photoluminescence analysis of single crystal silicon for III-V impurities |
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GB/T 24490-2009 多壁碳纳米管纯度的测量方法（中英文版） Test method for purity of multi-walled carbon nanotubes |
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GB/T 24488-2009 镁合金牺牲阳极电化学性能测试方法（中英文版） Test method for electrochemical properties of magnesium alloys sacrificial anode |
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GB/T 24582-2009 酸浸取 电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质（中英文版） Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-inductively coupled plasma mass spectrometry |
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GB/T 24581-2009 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中III、V族杂质含量的测试方法（中英文版） Test method for low temperature FT-IR analysis of single crystal silicon for Ⅲ-Ⅴ impurities |
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GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法（中英文版） Test method for measuring boron contamination in heavily doped n-type silicon substrates by secondary ion mass spectrometry |
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GB/T 24579-2009 酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物（中英文版） Test method for measuring surface metal contamination of polycrystalline silicon by acid extraction-atomic absorption spectroscopy |
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GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法（中英文版） Testing methods for determining the orientation of a semiconductor single crystal |
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GB/T 1554-2009 硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法（中英文版） Testing method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques |
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GB/T 1553-2009 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法（中英文版） Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay |
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GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法（中英文版） Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon |
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GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法（中英文版） Testing method for determination of radial interstitial oxygen variation in silicon |
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GB/T 14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法（中英文版） Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array |
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