“Single crystal wafer” 中國GB標準檢索結果

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	GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片（中英文版） Silicon carbide single crystal polished wafer
	GB/T 41325-2022 集成电路用低密度晶体原生凹坑硅单晶抛光片（中英文版） Low-density crystal primary pit silicon single crystal polishing wafer for integrated circuits
	GB/T 11094-2020 水平法砷化镓单晶及切割片（中英文版） Gallium arsenide single crystal and cutting wafer grown by horizontal bridgman method
	GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法（中英文版） Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods
	GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法（中英文版） Method for measuring crystallographic orientation of flats on single-crystal silicon slices and wafers by X-ray techniques
	GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片（中英文版） Horizontal bridgman grown gallium arsenide single　crystal and cutting wafer

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